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厚膜及块体材料压电测试(蝴蝶曲线和d33)激光干涉仪选件



SIOS激光干涉仪


单通道光学探头


最小分辨率0.3nm


形变测试范围100nm-2579.50μm

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  霍尔效应测试系统方案
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