宏微科仪科技精简系列：小身材，高性能
利用宏微科仪科技精简系列中芯�?VNA-P75A，在上市时间、生产效率、预算和工作台空间等方面实现良好平衡。精确且可重复的测量、自动化编码功能以及始终如一的直观用户体验，这些优势让您能够充满自信地完成产品开发生命周期每个阶段的工作。结合全方位的宏微科仪科技服务（包括校准、教育和咨询），这些仪器可以增强您的解决方案，帮助您加快技术应用、降低成本�?
VNA-P75A系列是宏微科仪科技首款紧凑型矢量网络分析仪（VNA），其价格适中，并采用完整的双端口设计，可以显著减小测试需要的空间。这款紧凑型 VNA 覆盖十分宽广的频率范围，�?300 kHz �?26.5 GHz 有六种频率范围可选。这�?VNA 安装在紧凑型机箱中，由外部计算机控制，具备非常强大的处理能力和功能。PC 上运行的固化软件拥有与其他宏微科仪科技 VNA 相同的直观图形用户界面（GUI），使您可能尽量减少在不同型号之间过渡的成本�?
应用软件
�?手动测试无源元器件（例如天线、滤波器、连接器、适配器）
�?无线元器件制造测�?
�?航空航天/国防制造测�?
�?在分类环境中的评�?设计验证
�?晶圆级、封装级半导体器件全自动S参数测试等（适用手动、半自动、全�? 动探针台�?
�?常用半导体器件测试程序库
�?自定义设置、快速测试、数据图形分析、数据导入导出等实用性功�?
关键性能
这款宏微科仪科技紧凑�? VNA 在动态范围、测量速度、迹线噪声和稳定度等关键技术指标上均达到业界先进水平。它与历经考验、值得信赖�?VNA 采用相同的测量技术，确保您可以获得始终一致的测量结果�?
�?测量速度�?24 ms�?01 点，�?2 端口校准�?00 kHz IFBW�?
�?动态范围：> 114 dB @ 9 GHz�? 110 dB @ 20 GHz�?0 Hz IFBW�?
�?迹线噪声�?< 0.003 dBrms�? kHz IFBW�?
�?稳定度：0.005 dB/°C（高�?4.5 GHz�?
主要特�?
�?紧凑�?VNA，可以在不同测试位置之间轻松地共享使�?
�?�?300 kHz �?26.5 GHz 有多种频率范围可�?
�?能够扩展测试端口数（最�? 4 个端口）
�?可随时进行频率和软件升级
�?采用与值得信赖�?VNA 相同�?GUI 和测量技�?
�?支持电子校准件（ECal），使校准变得轻松快�?
系统技术指�?
�?频率范围�?300kHz�?6.5GHz
�?频率分辨率：1Hz
�?nbsp;本底噪声�?.25GHz~20GHz�?108dBm
�?nbsp;动态范围：0.25GHz~6.5GHz�?15dB�?6.5GHz~14GHz�?14dB
�?nbsp;端口最大输出功率：0.25GHz~6.5GHz�?7dBm�?.5GHz~14GHz�?6dBm
�?nbsp;功率范围�?.25GHz~6.5GHz,+7dBm~-40dBm�?
6.5GHz~14GHz�?6dBm~-40dBm
�?nbsp;相位噪声：�?6 dBc/Hz�?
�?nbsp;幅度迹线噪声�? 0.003 dBrms�?0MHz~20GHz�? kHz IFBW）；
�?nbsp;相位迹线噪声�?0.030° rms�?0MHz~20GHz�? kHz IFBW）；
�?nbsp;温度稳定性：± 0.015 dB/°C�?.5 GHz~20 GHz ）（典型值）�?
�?nbsp;测量速度�?24 ms�?01 点，�?2 端口校准�?00 kHz IFBW�?
�?nbsp;输入端口损坏电平�?> +20 dBm�? ±35 VDC�? 1000V ESD�?
�?nbsp;配有快速的 Thunderbolt 3 接口，可以提升吞吐量�?
�?精度：�?ppm
�?老化率：<3.5ppm/�?
�?温度稳定度：±1ppm(0�?5�?
�?系统阻抗�?0Ω(标准�?�?5Ω(使用适合的适配器和校准套件)
�?nbsp;配置精密校准件；可进�?SOLT校准，可对射频器件如滤波器等进行电学表征�?
�?nbsp;测试软件：系统配置了全自动的测试软件，支持晶圆级、封装级半导体器件的S参数等测试；适用用手动、半自动、全自动的探针台，同时可扩展位支持温度等控制�?
�?nbsp;软件程序库：软件具备常用半导体器件的测试程序库；
�?支持lakeshore、cascade、MPI、聚芯等探针台
�?可提供各类型标准测试样品
�?nbsp;配置精密机械和电子校准件；可进行SOLT校准，可对射频器件如滤波器等进行射频电学表征�?
常规配置
测试主机*1
校准�?1
标准样品*1
射频线缆*2
射频测试软件*1
工具�?1
通信控制线缆*1
测试电脑*1�?
